光輻射自動測控儀/光輻射測控儀

更新時間：2014-03-11

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光輻射自動測控儀/光輻射測控儀型號：DP-GCK-I

本儀器適用于實時監測曝光量或曝輻量。用戶可以根據作需要設定預置值，儀器在監測量達到預置值時發聲報警。該儀器可廣泛應用于材料老化、紫外殺菌、光化學、大規模集成電路光刻等域。

光輻射自動測控儀/光輻射測控儀型號：DP-GCK-I

主要性能和標：

1．測量波段與量程：

測量范圍（nm）	峰值波長（nm）	量程		主要用途
測量范圍（nm）	峰值波長（nm）	輻照度	曝光（輻）量	主要用途
350—1050	半寬 400—1000	999 mW/cm²	9999.9 MJ/m²	材料老化
230—290	254	9.99 mW/cm²	999.99 mJ/cm²	紫外殺菌
320—400	365	9.99 mW/cm²	999.99 mJ/cm²	印刷、光刻
380—460	420	9.99 mW/cm²	999.99 mJ/cm²	印刷

注：表中所列為常用波段和量程，用戶選購儀器時要確認作波段以及量程。用戶也可選擇其它波段，例如峰值波長為313nm或340nm，但是要提前就主要標與溝通，雙方確認后再簽購銷合同。定制產品原則上不予退貨。
2．儀器顯示：本儀器有兩個LED顯示窗口，其中光輻照度顯示3位，
曝光量顯示5位，兩窗口的量程由用戶參照上表確定。
3．光輻照度及曝光量度：±5% （相對于NIM標準）
4．使用環境：溫度：20℃±20℃ 濕度 <80%
使用光纖傳光束時，試驗箱的溫度可達到80℃左右。
5．電源：AC 220V

上一條天候紫外輻照計/紫外輻照儀
下一條抓斗式采泥器/彼得遜采泥器/抓泥斗/污泥采樣器

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光輻射自動測控儀/光輻射測控儀